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薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)機(jī)電介質(zhì)在恒定電場(chǎng)作用下，介質(zhì)損耗的功率為 　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd 定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為 ω=σE2

絕緣紙板介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電極系統(tǒng) 1. 試樣上不加電極 表面電導(dǎo)率很低的試樣可以不加電極而將試樣插人電極系統(tǒng)中測(cè)量，在這個(gè)電極系統(tǒng)中，試樣的一側(cè)或兩側(cè)有一個(gè)充滿空氣或液體的間隙。 平板電極或圓柱形電極結(jié)構(gòu)的電容計(jì)算公式由表 3給出。 下面兩種型式的電極裝置特別合適

薄膜介電常數(shù)測(cè)定儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。

GB1409介電常數(shù)測(cè)試儀儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀 作為 新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi) 高的160MHz。 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。