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北京四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀主要用于測量測量金屬線材或其它形狀金屬導(dǎo)體電阻率的儀器。 四探針電阻率測試儀由主機(jī)、測試架兩大部分組成。主機(jī)包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源測量。試驗(yàn)設(shè)置通過觸摸屏進(jìn)行操作和設(shè)置，頁面布局合理，人性化設(shè)計(jì)，可對測試結(jié)果進(jìn)行打印。四探針電阻率測試儀具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)，*符合和國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。 四探針電阻率

四探針電阻率測試儀（單電）液晶顯示，溫度補(bǔ)償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。恒流源輸出；選配：PC軟件過程數(shù)據(jù)處理和標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器，薄膜按鍵操作簡單，中文或英文兩種語言界面選擇.

導(dǎo)電四探針電阻測試儀寬范圍測量電阻，測量檔位自動轉(zhuǎn)換 正反向測量直流電阻，消除熱電勢影響 十檔分級校準(zhǔn) 電阻溫度系數(shù)自動換算 液晶顯示，中文菜單操作

四探針電阻率測試儀有很多種，例如高溫的或者常溫的，不同的四探針電阻測試儀針對不同的材料測量的參數(shù)也是不同的。舉例，高溫四探針電阻測試儀可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，主要用于評估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能。

四探針電阻率測試儀（雙電）采用四端測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具。 還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭