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銅片四探針電阻率測(cè)試儀本標(biāo)準(zhǔn)與SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要變化如下:卜全因斤的試件,如來(lái)遠(yuǎn)用視展電況在數(shù)但上等于2,則兩內(nèi)探什之間則得的電勢(shì)力。

ITO導(dǎo)電箔膜低阻測(cè)試儀探針間距數(shù)據(jù)的輸入，探針間距出廠時(shí)已經(jīng)標(biāo)定，無(wú)需再次測(cè)量，探針頭上有詳細(xì)的探針數(shù)據(jù)資料，探針間距的設(shè)置：將光標(biāo)移動(dòng)至“探針間距”按“設(shè)置”鍵進(jìn)入，通過(guò)面板上面的“數(shù)字”按鍵輸入數(shù)據(jù)按“確定”鍵進(jìn)行確認(rèn)；按照以上方法和步驟設(shè)定”厚度“，注意厚度和探針間距修正系數(shù)表已經(jīng)設(shè)置在儀器程序中，自動(dòng)修正，無(wú)需再次輸入和查詢表格。

直流導(dǎo)電電阻測(cè)試儀配置手動(dòng)粉末測(cè)試裝置也可以（選購(gòu)）自動(dòng)粉末測(cè)試裝置，測(cè)試粉末時(shí)可以通過(guò)裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù)，輸入儀器后自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，功能突出，設(shè)計(jì)合理，是粉末行業(yè)理想之測(cè)試儀器.

2439薄膜防靜電體積電阻率測(cè)試儀存儲(chǔ)溫度和濕度-10℃ 到 60℃ 80%RH 以下(無(wú)凝結(jié))操作環(huán)境 室內(nèi),高海拔 2000m

薄膜體積電阻表面電阻率測(cè)試儀GB/T 10064-2006《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》。適用范圍：適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。